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高低溫探針卡

高低溫探針卡

高、低溫探針卡的測試環境苛刻,針卡局部溫度變化大,DGT公司經過30多年的經驗積累,解決了高、低溫探針卡在晶圓測試中的形變、針尖水平度差異大的問題。


產品特點:

高、低溫測試(-40--150℃)

ReW/OC材質

平整度高

多Sites同測